XSPA-200 ER 미니 플렉스에 설치 (사진 : 비즈니스 와이어)
XSPA-200 ER (사진 : 비즈니스 와이어)
XSPA-200 ER은 샘플 분석에서 배경 노이즈를 최소화하기 위해 고 에너지 해상도를 사용합니다.이 원리를 활용하여 감지기는 강철 및 배터리 재료에서 발견되는 것과 같은 전이 금속을 함유 한 샘플에서도 고감도 측정을 가능하게합니다.이전에는 이러한 측정에는 대규모 X- 선 분석 장비가 필요했습니다.XSPA-200 ER의 출현으로 미니 플렉스와 같은 벤치 탑 X- 선 기기를 사용하여 유사한 분석을 수행 할 수 있습니다.
XSPA-200 ER은 고정밀 X- 선 분석을 그 어느 때보 다 간단하게 만듭니다.예상되는 이점에는 새로운 재료의 개발 가속화와 기존 재료의 품질 향상이 포함됩니다.